トランス巻き変形テスターWuhan UHVの下では、多くの電力労働者がさまざまな電力テストをより便利に行うのに役立ちます。
変圧器巻線変形テストで使用される周波数応答方法と低-電圧パルス法は、両方とも電気測定に基づく非-破壊的試験方法です。以下は、2つの方法の説明です。
FRA（周波数応答分析）
1.高精度
軽度の変形（たとえば、ターン間のわずかな変位、巻き巻きの局所的緩み）に非常に敏感で、潜在的な欠陥の早期発見を可能にします。
高-周波数共鳴ピーク/谷を介して微妙な変化を検出し、優れた解像度を提供します。
2.マイナーな変形を検出します
分布の変形（例えば、全体的な巻線の傾き、ゆるみ）または局所的な軽度の損傷（大幅なインピーダンスの変化なし）を識別するのに効果的です。
制限：弱いローカリゼーション - 異常の近似領域のみを識別します（例：「-周波数の異常は、巻線端近くの問題を示します」）。
3.専門家の分析を要求します
履歴ベースライン曲線との比較に大きく依存しています。通訳曲線逸脱には専門知識が必要です（例えば、ピークシフトはショートパンツ、変位、またはゆるいリードを示す場合があります）。
環境干渉（例えば、接地の問題、電磁ノイズなど）に対して脆弱であり、厳格な運用プロトコルが必要です。
LVI（低電圧インパルス法）
1.シンプルな操作
迅速なテスト：直接時間{-}ドメイン波形キャプチャを備えた単一パルスインジェクション（nanocond -レベル）、周波数掃引は必要ありません。
2.重度の変形の識別
重要なインピーダンス変異に非常に敏感です（例えば、Inter -ターンショーツ、リードブレーク、主要な放射状の変形）：
短絡→負の反射波（インピーダンスの減少）。
開回路/破損→正の反射波（インピーダンスの増加）。
キー強度：正確なローカリゼーション - 反射波のタイミングを介して、電気距離（±1％の精度）を計算します。
3.ストングアンチ-干渉機能
複雑なフィールド環境に適した、パワー-周波数電磁干渉からの最小限の影響。
周波数-スイーププロセスにより、高いデータの安定性が保証されます。