直列共振

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直列共振、としても知られています可変周波数直列共振試験装置、可変周波数電源、励磁トランス、リアクトル、容量性分圧器で構成されます。テストサンプルのコンデンサとリアクトルは直列共振接続を形成します。分圧器はテストサンプルに並列に接続され、テストサンプルの共振電圧を測定し、過電圧保護信号を提供します。周波数変調電力出力は励磁トランスを介して直列共振回路に結合され、励起電力を供給します。直列共振.

直列共振の定義

抵抗 R、インダクタ L、およびコンデンサ C を備えた AC 回路では、直列共振により、通常、回路の両端で電圧と電流の位相が異なります。回路コンポーネント (L または C) のパラメータまたは電源周波数を調整すると、それらの位相を同じにすることができ、回路全体が純粋な抵抗のように見えます。回路がこの状態に達すると、共振と呼ばれます。共振状態では、回路の合計インピーダンスは最大値に達するか、最大値に近づきます。共鳴を研究する目的は、この客観的な現象を理解し、その特性を科学や応用技術に最大限に活用するとともに、共鳴によって引き起こされる害を防ぐことです。回路の接続には直列共振と並列共振の2種類があります。抵抗、インダクタ、およびコンデンサで構成される直列回路では、容量性リアクタンス XC が誘導性リアクタンス XL に等しい、つまり XC=XL の場合、回路内の電圧 U と電流 I の位相は同じとなり、回路は純粋な抵抗を示します。この現象は直列共振（電圧共振とも呼ばれます）と呼ばれます。回路内で直列共振が発生すると、回路のインピーダンスZ=√ R2+XC-XL2=R、回路内の総インピーダンスが最小になり、電流は最大値に達します。

直列共振の原理

回路周波数では回路内で共振が発生し、テストサンプルの電圧は励磁トランスの高電圧端の出力電圧のQ倍になります。 Q はシステム品質係数であり、電圧共振倍数であり、一般に数十から数百、あるいはそれ以上の範囲にあります。まず、可変周波数電源の出力周波数を調整して回路内に直列共振を引き起こし、次に回路共振状態でサンプル電圧の試験値が得られるように可変周波数電源の出力電圧を調整します。回路の共振により、可変周波数電源の出力電圧が小さいほど、試験サンプルCXに高い試験電圧を生成することができます。

直列共振のメリット

1. 必要な電源容量が大幅に削減されます。 XB-f シリーズ シリーズ シリーズ 直列共振試験装置は、共振リアクトルと試験対象コンデンサを使用して共振を発生させ、必要な高電圧と大電流を取得します。システム全体において、電源はシステムのアクティブ消費部分のみを提供する必要があります。したがって、テストに必要な電源はテスト容量の 1/Q 倍のみです (Q は品質係数)。

2. 装置の重量と容積が大幅に削減されました。直列共振電源では、かさばる高電力電圧調整装置と通常の高電力周波数試験用変圧器が不要になるだけでなく、共振励起電源は試験容量の 1/Q しか必要とせず、システムの重量と体積が大幅に削減され、通常は通常の試験装置の 1/5 ～ 1/10 になります。

3. 出力電圧波形を改善しました。共振電源は、出力電圧の波形歪みを改善し、良好な正弦波を取得し、高調波ピークによるテストサンプルの誤った故障を効果的に防止できる共振フィルタ回路です。

4. 大きな短絡電流が故障点を焼損するのを防ぎます。-共振状態では、試験サンプルの絶縁の弱点が破壊されると、回路は即座に離調し（静電容量が変化し、共振条件を満たさなくなる）、回路電流は通常の試験電流の1/Qに急速に減少します。しかし、AC耐電圧試験に並列共振や従来の試験用トランスを使用すると、破壊電流が即座に数十倍に増加します。この 2 つを比較すると、短絡電流はブレークダウン電流と数百倍異なります。{6}}。したがって、直列共振は、故障点を焼損する大きな短絡電流を心配することなく、絶縁の弱点を効果的に特定できます。-

5. 過電圧からの回復はありません。試験サンプルに絶縁破壊やフラッシュオーバーが発生すると、共振条件の喪失により高電圧が直ちに消失し、アークが直ちに消滅し、装置の保護回路が作動し、出力が遮断されます。